芯片高低溫測試箱

芯片高低溫測試箱主要為工業(yè)材料、半成品、成品在研發(fā)、生產(chǎn)和檢驗(yàn)各環(huán)節(jié)的試驗(yàn)提供恒定溫?zé)?、交變溫?zé)?、?fù)雜高低溫交變等試驗(yàn)環(huán)境和試驗(yàn)條件，適用于電子零部件、電子產(chǎn)品、家電、光電、電器、化工、通訊、五金、橡膠、衛(wèi)浴、安防、玩具、LED等眾多行業(yè)并沒有*例出來。

芯片高低溫測試箱采用溫度儀表，7寸高清真彩液晶觸摸顯示屏，熒幕操作簡單，程序編輯容易，無須按鍵輸入，屏幕直接觸摸選項(xiàng)。（TEMI880儀表）控制器操作界面設(shè)中英文可供選擇，實(shí)時(shí)運(yùn)轉(zhuǎn)曲線圖可由屏幕顯示。資料及試驗(yàn)條件輸入后，控制器具有熒屏鎖定功能，避免人為觸摸而停機(jī)。具有100組程序1000段999循環(huán)步驟的容量，每段時(shí)間設(shè)定值為99小時(shí)59分。具有RS-232通訊界面，可在電腦上設(shè)計(jì)程序，監(jiān)視試驗(yàn)過程并執(zhí)行自動(dòng)開關(guān)機(jī)等功能。具有自動(dòng)演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為*確穩(wěn)定。大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且采用雙層玻璃，隨時(shí)清晰的觀測箱內(nèi)狀況。設(shè)有獨(dú)立限溫報(bào)警系統(tǒng)，超過限制溫度即自動(dòng)中斷，保證實(shí)驗(yàn)安全運(yùn)行不發(fā)生意外。箱體左側(cè)配直徑50mm的測試孔。溫度范圍用戶可選擇：D:-70~150℃；C:-40℃~150℃；B:-20~150℃；A:0℃~150℃；容積是寬高深相乘得出的，所以顧客要選擇好尺寸大小：愛佩標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)箱尺寸大小有寬400mm*高500mm*深400mm；寬500mm*高600mm*深500mm；寬500mm*高750mm*深600mm；寬600mm*高850mm*深800mm；寬1000mm*高1000mm*深800mm；寬1000mm*高1000mm*深1000mm供大家選擇，如果以上尺寸都滿足不了請把要求提出來讓我司工程人員為大家非標(biāo)定制。